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簡(jiǎn)要描述:兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱咨詢用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在Z短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬, 塑料,橡膠, 電子等材料.執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)1、GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》2、美軍標(biāo)MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》3、冷熱沖擊試驗(yàn)的目的編輯實(shí)際上冷熱沖擊試驗(yàn)箱作為種工具
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兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱咨詢用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在zui短時(shí)間內(nèi) 試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬, 塑料,橡膠, 電子等材料.
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
1、GB 2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》
2、美軍標(biāo)MIL-STD-810F《環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)》
3、冷熱沖擊試驗(yàn)的目的編輯實(shí)際上冷熱沖擊試驗(yàn)箱作為種工具,應(yīng)用在產(chǎn)品研制的不同階段時(shí)的目的是不同的:
4、工程研制階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和工藝缺陷;
5、產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)鑒定和批產(chǎn)階段驗(yàn)收決策提供依據(jù);
6、作為環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用時(shí),目的是剔除產(chǎn)品的早期故障。
因此在編寫研制過程不同階段的環(huán)境試驗(yàn)大綱或篩選大綱,試驗(yàn)報(bào)告或篩選報(bào)告時(shí),就將冷熱沖擊試驗(yàn)的試驗(yàn)?zāi)康木唧w化,不宜表達(dá)含糊或籠統(tǒng)。
兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱咨詢技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸:W360mm*H350mm*D400mm
2.外箱尺寸:以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
3.高溫槽預(yù)熱溫度范圍:+60℃~200℃;
4.升溫時(shí)間:+60℃~200℃≤30min;
5.低溫槽預(yù)冷溫度范圍: -75~-10℃;
6.降溫時(shí)間:+20℃~-75℃≤60min;﹙注:降溫時(shí)間為低溫槽單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能﹚
7.試驗(yàn)方式:氣動(dòng)風(fēng)門切換
8.溫度沖擊范圍:﹙+60℃~+150℃﹚/﹙-65℃~-10℃﹚
9.溫度波動(dòng)度:±0.5℃
10.溫度偏差:±2.0℃
11溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5分鐘
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1.技術(shù)培訓(xùn):操作使用、日常維護(hù)保養(yǎng)、常見故障檢測(cè)和排除
2.定期回訪:設(shè)備巡檢,排除故障隱患,傳遞消息
3.備品、備件專項(xiàng)儲(chǔ)備支持
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