當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 > 兩箱溫度沖擊試驗(yàn)箱 > AP-CJ冷熱三箱沖擊試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述:?冷熱三箱沖擊試驗(yàn)箱用于自動(dòng)化零部件、PCB基扳、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于冷熱驟變產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害。
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品牌 | 愛(ài)佩科技 | 加工定制 | 是 |
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分類 | 沖擊試驗(yàn)箱 | 內(nèi)箱材質(zhì) | 不銹鋼 |
外箱材質(zhì) | 不銹鋼/烤漆 | 溫度范圍 | -65℃-150℃℃ |
波動(dòng)/均勻度 | ±0.5℃℃ | 電源電壓 | 380v |
工作室尺寸 | 我司有多種尺寸可提供mm | 外形尺寸 | 我司有多種尺寸可提供mm |
適用范圍 | 金屬、塑料、橡膠、科研等各行業(yè) |
冷熱三箱沖擊試驗(yàn)箱用于自動(dòng)化零部件、電子電器零組件、通訊組件、金屬、汽車配件、化學(xué)材料、航天、兵工業(yè)、塑膠等行業(yè)、防工業(yè)、BGA、電子芯片IC、PCB基扳、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于冷熱驟變產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害。
冷熱三箱沖擊試驗(yàn)箱愛(ài)佩公司常做的標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)和內(nèi)尺寸(也可按客戶要求生產(chǎn))(單位:mm):
型號(hào) AP-CJ-27L 內(nèi)形尺寸:W×H×D 300×300×300 ;型號(hào)AP-CJ-50L 內(nèi)形尺寸:W×H×D 360×350×400;型號(hào)AP-CJ-80L內(nèi)形尺寸:W×H×D 500×400×400;型號(hào)AP-CJ-108L內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×400×450;型號(hào)AP-CJ-150L內(nèi)形尺寸:W×H×D 600×500×500;型號(hào)AP-CJ-250L內(nèi)形尺寸:W×H×D 700×600×600;型號(hào)AP-CJ-408L內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×650×750;型號(hào)AP-CJ-560L內(nèi)形尺寸:W×H×D 1000×700×800;(以上型號(hào)建議根據(jù)自家產(chǎn)品的大小選擇合作的尺寸再配上合適的溫度范圍即可,每一款尺寸都可以在三個(gè)溫度范圍中選擇其中一段,愛(ài)佩標(biāo)準(zhǔn)的溫度范圍有:A :-40~+150℃;B :-55~+150℃;C :-65~+150℃).
溫度驟變時(shí)間:從冷溫區(qū)到熱溫區(qū)或從熱溫區(qū)到冷溫區(qū)≤10秒鐘;
溫度恢復(fù)時(shí)間 ≤5分鐘(與溫度恢復(fù)條件有關(guān),既冷卻水溫、恒溫時(shí)間、暴露溫差、樣品負(fù)載有關(guān))
控制系統(tǒng)的主要控制器采用LED數(shù)顯(P、I、D +S、S、R.)微電腦集成全觸摸控制器,度范圍:設(shè)定度溫度±0.1℃,指示度:溫度±0.1℃,解析度:±0.01℃。
制冷系統(tǒng)全部采用復(fù)疊式二元工業(yè)制冷,半密式壓縮機(jī)配杜邦的環(huán)保冷媒(HFC-507/HFC-23),長(zhǎng)久冷熱驟變?cè)囼?yàn)*沒(méi)有問(wèn)題.
所滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式;SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則;GJB150.3A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分高溫試驗(yàn);GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);GJB 150.4A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn);GJB 150.5A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第5部分:溫度沖擊試驗(yàn);GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗(yàn)方法;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn);IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化;EIA 364-32熱沖擊(溫度循環(huán))測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估;QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 汽車行業(yè)標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。
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