當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室 > 實(shí)驗(yàn)設(shè)備 > AP-KF實(shí)驗(yàn)室設(shè)備生產(chǎn)廠家
簡要描述:實(shí)驗(yàn)室設(shè)備生產(chǎn)廠家 高溫老化房是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),電源供應(yīng)器,主機(jī)板、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備
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品牌 | 愛佩科技 | 加工定制 | 是 |
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分類 | 步入式試驗(yàn)箱 | 內(nèi)箱材質(zhì) | 304不銹鋼 |
外箱材質(zhì) | 烤漆 | 溫度范圍 | -70℃-85℃℃ |
波動(dòng)/均勻度 | ≤±0.5℃;≤3.0℃℃ | 電源電壓 | 380Vv |
工作室尺寸 | 我司有多種尺寸可提供mm | 外形尺寸 | 我司有多種尺寸可提供mm |
適用范圍 | 適用于計(jì)算機(jī)終端機(jī),汽車零組件 |
實(shí)驗(yàn)室設(shè)備生產(chǎn)廠家 高溫老化房是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品(如:計(jì)算機(jī)整機(jī),顯示器,終端機(jī),車用電子產(chǎn)品,電源供應(yīng)器,主機(jī)板、監(jiān)視器、交換式充電器等)仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備,是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實(shí)驗(yàn)設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測試負(fù)載等,通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件,是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段,充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)
實(shí)驗(yàn)室設(shè)備生產(chǎn)廠家 高溫老化房技術(shù)參數(shù):
1、內(nèi)容積:6M3、8M3、10M3、12M3、15M3、18M3、20M3、30M3、50M3、(除了這些容積,更大或者更小的均可來電定制)
2、內(nèi)室尺寸與外型尺寸:以客戶的測試件所需尺寸或場地等需求定制合理的內(nèi)外尺寸,建議雙方電談或者面談了解清楚實(shí)際需求再確定具體所需尺寸,能有效節(jié)約成本及滿足實(shí)際需要。
3、溫度范圍:RT~85 ℃或更高請(qǐng)致電說明。
4、(單/雙)開門選擇,如雙:W(800+800)mm×H1900mmW;( 可依客戶要求選擇或定制)
5、滿足標(biāo)準(zhǔn):GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb、GJB150.3-1986 高溫試驗(yàn)、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法、GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)。
6、工作噪音:A聲級(jí)≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃,回聲少的隔音室內(nèi)測得;采用A計(jì)權(quán),測試8個(gè)點(diǎn)的平均值;各測試點(diǎn)水平離噪音源1米、高度離地面1米)
7、溫度波動(dòng):溫度:≤±0.5℃ (指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測值之差)
8、溫度均勻度:溫度:≤2.0℃(均勻度為每次空載測試中實(shí)測高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值)
9、溫度升溫時(shí)間:約40min
10、電源:AC380V,三相四線+保護(hù)地線。
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