兩箱式溫度沖擊試驗箱廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學材料、塑料等行業(yè)，防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理性變化進行試驗,用來測試材料結構或復合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時間內試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理變化。

兩箱式特點

二箱設備區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)二部分，測試產(chǎn)品置于提籃中, 沖擊時提籃將測試產(chǎn)品移進高溫區(qū)或低溫區(qū)進行衡擊,測試產(chǎn)品為動態(tài)式。 

二箱移動式冷熱沖擊，安全的氣壓驅動測試物上下來回沖擊。

采日制彩色觸控LCD中/英文微電腦溫度控制器。

無紙式記錄功能，具實時顯示溫度沖擊試驗變化之曲線圖及記錄雙重功能。

冷熱沖擊機構移動時間在10秒內，可符合MIL，LEC，JIS等規(guī)范。

冷熱沖擊溫度恢復時間在5分鐘內，可符合相關試驗規(guī)范。

采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設計，降溫快、效率高。

兩箱式溫度沖擊試驗箱技術參數(shù)：

內容積：150L

內箱尺寸：500*600*500mm   (W* H *D)

外型尺寸(約)：1550*2050*2350mm （W* H *D）

重 量：約850㎏

測試室溫度范圍：-65℃～+150 ℃ (水冷式)

低溫沖擊范圍：-10℃～-65 ℃  （任意可調）

高溫沖擊范圍：60℃～150 ℃  （任意可調）

預熱溫度范圍：RT～+195℃

升溫時間：+50℃→+195℃ ≤40min注：升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能

預冷溫度范圍：RT～-75℃

降溫時間：+20℃ → -75℃≤約90min注：降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能