當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 冷熱沖擊試驗(yàn)箱 > 沖擊箱 > 3AP-CJ-225C3兩槽式冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述:兩槽式冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫和低溫的連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度,藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化和物理傷害。適用于:汽車(chē)配件、LED、金屬、塑料、橡膠、電子等材料。
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品牌 | 愛(ài)佩科技 | 分類(lèi) | 沖擊試驗(yàn)箱 |
---|---|---|---|
內(nèi)箱材質(zhì) | 不銹鋼 | 外箱材質(zhì) | 冷扎鋼板 |
溫度范圍 | -65~150℃ | 波動(dòng)/均勻度 | ±0.5℃ |
功率 | 11kw | 電源電壓 | 380Vv |
工作室尺寸 | 500*600*500mm | 外形尺寸 | 1500*2000*1750mm (mm |
適用范圍 | 半導(dǎo)體 | 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) |
兩槽式冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零組件塑膠等行業(yè)、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑料等行業(yè),防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理性變化進(jìn)行試驗(yàn),用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理變化。
兩槽式冷熱沖擊實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):
內(nèi)容積:27L
內(nèi)箱尺寸:300*300*300mm (W* H *D)
外型尺寸(約):1250*1700*2100mm (W* H *D)
重量:約480㎏
測(cè)試室溫度范圍:-65℃~+150 ℃ (水冷式)
低溫沖擊范圍:-10℃~-65 ℃ (任意可調(diào))
高溫沖擊范圍:60℃~150 ℃ (任意可調(diào))
預(yù)熱溫度范圍:RT~+195℃
升溫時(shí)間:+50℃→+195℃ ≤40min注:升溫時(shí)間為高溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
預(yù)冷溫度范圍:RT~-75℃
降溫時(shí)間:+20℃ → -75℃≤約90min注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能
試驗(yàn)箱各部分功能
①高溫室:用于儲(chǔ)存熱量
②試驗(yàn)室:放置試樣做試驗(yàn)的部分
③低溫室: 用于儲(chǔ)存冷量
④總電源板:包括總電源開(kāi)關(guān)、試樣電源控制端子、外部報(bào)警輸出端子、試驗(yàn)結(jié)束輸出端子、溫度到達(dá)輸出端子、RS-232通訊界面、操作面板蓋鎖
⑤操作板:包括控制器、故障指示燈、超溫保護(hù)設(shè)定器、溫度記錄儀(選購(gòu)件)
⑥配電室:安裝電氣元器件
⑦機(jī)械室:安裝制冷機(jī)組和排風(fēng)機(jī)
⑧進(jìn)氣口:在環(huán)境溫度曝露時(shí)吸進(jìn)外面的空氣
⑨排氣口:從機(jī)械室和試驗(yàn)室排出熱氣
⑩溫度記錄儀(選購(gòu)件)記錄溫度沖擊試驗(yàn)箱各室的溫度
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